異物分析・不良解析
下記のステップにより、異物分析・不良解析を実施します。

1.形態観察
目視、金属顕微鏡、マイクロスコープ、光学顕微鏡観察、走査型電子顕微鏡（SEM）、電界放出走査型電子顕微鏡（FE-SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）、原子間力顕微鏡（AFM）等による形態観察。

2.有機化合物の場合
フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）、顕微レーザラマン分光装置、ガスクロマトグラフGC）、ガスクロマトグラフ質量分析計（GC/MS）、熱分析装置（TG/DTA、TMA、DSC）、高速液体クロマトグラフ（HPLC）、高速液体クロマトグラフ質量分析計（LC/MS）、ゲルパーミエーションクロマトグラフ（GPC）、飛行時間型二イオン質量分析装置（TOF-SIMS）等による分析実施。

3.無機化合物の場合
エネルギー分散型蛍光X線分析装置、波長分散型蛍光X線装置、エネルギー分散型X線マイクロアナライザー、二次イオン質量分析装置（SIMS）、飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）、マイクロオージェ電子分光分析装置（μ-AES）、X線回折装置（XRD）、イオンクロマトグラフ（IC）、誘導結合プラズマイオン源質量分析装置（ICP-MS）等による分析実施。

4.有機化合物と無機化合物の混合物の場合

2項と3項を組み合わせることにより分析実施。

その他、比重、密度、硬度、粘度等の物性評価による解析も実施します。